彼愛姆6JA干涉顯微鏡(普通型)
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商品詳情
用途
6JA干涉顯微鏡是用來測量精密加工零件(平面、圓柱等外表面)光潔度的儀器,也可以用來測量零件表面刻線。
鍍層等深度,并配以各種附件,還能測量粒狀,加工紋路混亂的表面
低反射率的工件表面,同時還能將儀器安置在工件上對大型工件表面進行測量。
儀器測量表面不平深度范圍為1~0.03微米,用測微目鏡和照相方法來評定▽10~▽14光潔度的表面。
本儀器適用于廠礦企業計量室,精密加工車間,也適用于高等院校,科學研究等單位。
技術參數
1、測量表面光潔度范圍 :▽10~▽14(相當于測量表面不平深度范圍為1~0.03μm)
2、工作物鏡的數值孔徑:0.65
3、工作距離: 0.5mm
4、儀器的視場 目視:Φ0.25mm
5、儀器的放大倍數:500×
6、測量目鏡放大倍數:12.5×
7、測微鼓分劃值:0.01mm
8、綠色干涉綠色片波長 :λ≈5300?
9、半寬度:▽λ≈100?
10、 工作臺升程:5mm
11、X、Y方向移動范圍 :≈10mm
12、旋轉運動范圍 :360°
13、可調變壓器輸入電壓: 220V 或110V
14、輸出電壓(可調):4V~6V
15、儀器標準鏡:高反射率:≈50%; ;低反射率: ≈4%
16、儀器外形尺寸:270×160×230mm
17、 儀器重量: ≈5㎏